工業 CT 無損檢測和 X 射線數字成像技術

X射線數字射線成像(DigitalRadiograph,DR)工業計算機斷層掃描（IndustrialComputedTomography,ICT）它是工業無損檢測領域的兩個重要技術分支，GE新機l設備買賣主要看機器的性能和成色，DR檢測技術是20世紀90年代末實時出現的X射線數字成像技術，phoenix x-ray根據不用的應用領域提供microfocus 和nanofocusTM X 射線系統，

與目前仍廣泛研究使用的射線膠片相比，DR檢測系統優點是實時性強，可以通過在線實時檢測工件結構介質的不連續性、結構設計形式、介質物理密度等質量控制缺陷，在快速無損檢測工作領域方面具有非常廣闊的發展經濟前景。

ICT 是一種集 X 射線光電子、信息科學、微電子學、精密機械和計算機科學于一體的高科技技術。根據探測器收集到的數字投影序列，重建樣本在掃描區域內橫截面的射線衰減系數分布圖像。

根據這一圖像，可以確定和測量試樣的結構、密度、特征尺寸、組分變化和其他物理化學性質。作為一種無損無接觸檢測技術，它廣泛應用于金屬鑄件、壓力管道、金屬制品、汽車等領域的無損檢測、無損評價和逆向工程。

1. X 射線數字成像技術

與目前廣泛使用的 X 射線膠片相比，DR 技術可以在很大程度上避免圖像信息丟失的缺點。DR 成像技術具有探測速度快、探測效率高、 X 射線劑量低、易于掌握曝光條件等優點。DR 系統還可以方便地存儲和處理圖像。DR 技術廣泛應用于無損檢測領域。

2、X射線DR成像技術原理

DR 系統一般由光源、被測對象、探測器、成像工作站等組成。在 DR 檢測技術中，核心部件是檢測器。目前，實際工程中使用的探測器主要分為像增強器和非晶硅平板探測器。圖像增強器首先將屏幕上的 x 射線光子轉換成可見光，然后使用 CCD 攝像機將其可見光轉換成視頻信號，可以在顯示器上實時顯示，也可以通過 a/d 采集卡將數字信號輸入計算機顯示和處理。

非晶硅平板探測器可以采用大規模數據集成信息技術，集成了一個大面積非晶硅傳感器陣列和碘化鎵閃爍體，可直接集成X光子轉化為企業電子，我們通過數模轉換器（ADC）變成數字控制信號。平板探測器具有研究動態管理范圍大、空間分辨率高的特點，可實現經濟高速DR測試，已成為中國工業DR檢測網絡技術不斷發展的主流。

由 X 射線源產生的 X 射線形成一個強入射場，通過樣品的衰減獲得，然后將圖像輸出到探測器上。當來自強入射場的射線照射到被測材料上時，X 射線光子與被測材料的原子相互作用，包括光電效應、康普頓散射和相關散射。這些相互作用的最終結果是 X 射線被吸收或散射，也就是說，X 射線穿過物質時會衰減。實際的衰變過程與射線的能量、物質的密度和原子系數有關。